GB/T 24577-2009

Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (374.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 24577-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB