GB/T 20176-2006

Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

NORMA vydaná dňa 27.3.2006

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (408.70 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (408.70 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 20176-2006
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 27.3.2006
Country: Chinese technical standard
Kategória: Technické normy GB