GB/T 19922-2005

Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning

NORMA vydaná dňa 19.9.2005

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (271.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 19922-2005
Dátum vydania normy: 19.9.2005
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB