NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 17169-1997

Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection

NORMA vydaná dňa 22.12.1997

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (405.00 EUR)
Anglicky a čínsky -
Tlačené (405.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 17169-1997
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 22.12.1997
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB