GB/T 1554-2009

Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (513.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 1554-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB