
Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
NORMA vydaná dňa 18.4.1995
Označenie normy: GB/T 1554-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 18.4.1995
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB