
Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
NORMA vydaná dňa 30.10.2009
Označenie normy: GB/T 1553-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB