GB/T 14863-1993

Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes

NORMA vydaná dňa 30.12.1993

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (431.30 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (431.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 14863-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.12.1993
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB