GB/T 14847-1993

Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

NORMA vydaná dňa 24.12.1993

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (344.80 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (344.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 14847-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 24.12.1993
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB