Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method
NORMA vydaná dňa 30.10.2009
Označenie normy: GB/T 14146-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB