Silicon epitaxial layers—Determination of carrier concentration—Mercury probe Valtage-capacitance method
NORMA vydaná dňa 6.2.1993
Označenie normy: GB/T 14146-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 6.2.1993
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB