Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy
NORMA vydaná dňa 6.2.1993
Označenie normy: GB/T 14145-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 6.2.1993
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB