NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 14145-1993

Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy

NORMA vydaná dňa 6.2.1993

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (211.10 EUR)

Anglicky a čínsky -
Tlačené (211.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 14145-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 6.2.1993
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB