GB/T 14142-2017

Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique

NORMA vydaná dňa 29.9.2017

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (145.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 14142-2017
Dátum vydania normy: 29.9.2017
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB