Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques
NORMA vydaná dňa 6.2.1993
Označenie normy: GB/T 14142-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 6.2.1993
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB