GB/T 13388-2009

Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (273.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 13388-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB