GB/T 13388-1992

Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques

NORMA vydaná dňa 19.2.1992

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (247.10 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (247.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 13388-1992
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 19.2.1992
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB