GB/T 13387-2009

Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (203.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 13387-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB