GB 6624-1986

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon wafers by visual examination

NORMA vydaná dňa 1.1.1986

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (203.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB 6624-1986
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1986
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB