
Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers
NORMA vydaná dňa 1.1.1986
Označenie normy: GB 6622-1986
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1986
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB