E ÖVE EN IEC 63287-4

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans -- Part 4: Early failure assessment (IEC 47/2917/CDV) (english version)

NORMA vydaná dňa 1.7.2025

Anglicky -
Elektronické PDF (25.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (25.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E ÖVE EN IEC 63287-4
Dátum vydania normy: 1.7.2025
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Rakúska technická norma
Kategória: Technické normy ÖNORM