
VDE V 0847-22-9. Integrated circuits - measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method.
NORMA vydaná dňa 1.11.2012
Označenie normy: E DIN IEC/TS 62132-9:2012-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2012
Počet strán: 52
Približná hmotnosť: 156 g (0.34 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
VDE V 0847-22-9. Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung.