E DIN IEC 62047-8:2008-05

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films.

NORMA vydaná dňa 1.5.2008

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (95.40 EUR)

Anglicky a nemecky -

Tlačené (118.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN IEC 62047-8:2008-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2008
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN IEC 62047-8:2008-05 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten.