Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
NORMA vydaná dňa 1.6.2009
Označenie normy: E DIN IEC 60749-40:2009-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2009
Počet strán: 43
Približná hmotnosť: 129 g (0.28 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.