E DIN IEC 60749-38:2005-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error rate testing of electronic components.

NORMA vydaná dňa 1.4.2005

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (63.30 EUR)

Anglicky a nemecky -

Tlačené (80.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN IEC 60749-38:2005-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.4.2005
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN IEC 60749-38:2005-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Rate bei elektronischen Bauelementen.