E DIN IEC 60749-35:2004-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for non-hermetic encapsulated electronic components.

NORMA vydaná dňa 1.12.2004

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN IEC 60749-35:2004-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.12.2004
Počet strán: 34
Približná hmotnosť: 102 g (0.22 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN