
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance; Unbiased autoclave.
NORMA vydaná dňa 1.10.2002
Označenie normy: E DIN IEC 60749-33:2002-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.10.2002
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Feuchtebeständigkeit; Autoclave ohne Vorspannung.