Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).
NORMA vydaná dňa 1.2.2003
Označenie normy: E DIN IEC 60749-28:2003-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.2.2003
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Charged Device Model (CDM).