NORMSERVIS s.r.o.

E DIN IEC 60749-23:2002-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NORMA vydaná dňa 1.10.2002

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (48.80 EUR)
Anglicky a nemecky -
Tlačené (62.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN IEC 60749-23:2002-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.10.2002
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN IEC 60749-23:2002-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.