Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile.
NORMA vydaná dňa 1.6.2022
Označenie normy: E DIN EN IEC 63287-2:2022-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2022
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils.