E DIN EN IEC 60749-5:2024-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

NORMA vydaná dňa 1.4.2024

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (69.90 EUR)

Anglicky a nemecky -

Tlačené (89.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN EN IEC 60749-5:2024-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.4.2024
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN EN IEC 60749-5:2024-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.