E DIN EN IEC 60749-37:2023-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.

NORMA vydaná dňa 1.2.2023

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (111.40 EUR)

Anglicky a nemecky -

Tlačené (142.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN EN IEC 60749-37:2023-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.2.2023
Počet strán: 42
Približná hmotnosť: 126 g (0.28 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN EN IEC 60749-37:2023-02 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.