
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.
NORMA vydaná dňa 1.8.2024
Designation standards: E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.8.2024
The number of pages: 37
Approximate weight : 111 g (0.24 lbs)
Country: German technical standard
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule.