E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.

NORMA vydaná dňa 1.8.2024

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (105.40 EUR)

Anglicky a nemecky -

Tlačené (135.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.8.2024
Počet strán: 37
Približná hmotnosť: 111 g (0.24 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule.