E DIN EN 60749-5:2002-06

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.

NORMA vydaná dňa 1.6.2002

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (48.80 EUR)

Anglicky a nemecky -

Tlačené (62.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN EN 60749-5:2002-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2002
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN EN 60749-5:2002-06 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung.