Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
NORMA vydaná dňa 1.12.2016
Označenie normy: E DIN EN 60749-5:2016-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.12.2016
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.