E DIN EN 60749-44:2014-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NORMA vydaná dňa 1.8.2014

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (102.30 EUR)

Anglicky a nemecky -

Tlačené (127.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN EN 60749-44:2014-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.8.2014
Počet strán: 33
Približná hmotnosť: 99 g (0.22 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN EN 60749-44:2014-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.