E DIN EN 60749-43:2013-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan.

NORMA vydaná dňa 1.10.2013

Anglicky a nemecky -
Elektronické PDF (124.50 EUR)

Anglicky a nemecky -

Tlačené (154.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN EN 60749-43:2013-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.10.2013
Počet strán: 63
Približná hmotnosť: 189 g (0.42 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy E DIN EN 60749-43:2013-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden zur Planung der Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.