Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices.
NORMA vydaná dňa 1.4.2017
Označenie normy: E DIN EN 60749-41:2017-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.4.2017
Počet strán: 35
Približná hmotnosť: 105 g (0.23 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente.