Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination.
NORMA vydaná dňa 1.5.2017
Označenie normy: E DIN EN 60749-3:2017-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2017
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.