E DIN EN 60749-29:2002-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydaná dňa 1.9.2002

Informácie o norme:

Označenie normy: E DIN EN 60749-29:2002-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.9.2002
Počet strán: 33
Približná hmotnosť: 99 g (0.22 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN