Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
NORMA vydaná dňa 1.11.2009
Označenie normy: E DIN EN 60749-29:2009-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2009
Počet strán: 45
Približná hmotnosť: 135 g (0.30 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.