Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).
NORMA vydaná dňa 1.7.2012
Označenie normy: E DIN EN 60749-28:2012-07
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.7.2012
Počet strán: 46
Približná hmotnosť: 138 g (0.30 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).