Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
NORMA vydaná dňa 1.9.2009
Označenie normy: E DIN EN 60749-23/A1:2009-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.9.2009
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.