Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength test.
NORMA vydaná dňa 1.5.2002
Označenie normy: E DIN EN 60749-19:2002-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2002
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit.