Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity).
NORMA vydaná dňa 1.9.2002
Označenie normy: E DIN EN 60749-14:2002-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.9.2002
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 14: Festigkeit der Anschlüsse (Unversehrtheit der Anschlüsse).