DIN EN IEC 60749-41:2023-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.

NORMA vydaná dňa 1.3.2023

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (111.40 EUR)

Nemecky -

Tlačené (142.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Dátum vydania normy: 1.3.2023
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN IEC 60749-41:2023-03 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen.