Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.
NORMA vydaná dňa 1.2.2023
Designation standards: DIN EN IEC 60749-30:2023-02
Publication date standards: 1.2.2023
The number of pages: 17
Approximate weight : 51 g (0.11 lbs)
Country: German technical standard
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen.