DIN EN IEC 60749-28:2024-12

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.

NORMA vydaná dňa 1.12.2024

Nemecky -
Tlačené (126.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN IEC 60749-28:2024-12
Dátum vydania normy: 1.12.2024
Počet strán: 51
Približná hmotnosť: 153 g (0.34 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN IEC 60749-28:2024-12 :

VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.