Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly.
NORMA vydaná dňa 1.12.2023
Označenie normy: DIN EN IEC 60749-10:2023-12
Dátum vydania normy: 1.12.2023
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe.