DIN EN 60749-5:2003-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

NORMA vydaná dňa 1.9.2003

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (52.90 EUR)

Nemecky -

Tlačené (63.80 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (54.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-5:2003-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.9.2003
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-5:2003-09 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.