DIN EN 60749-40:2012-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.

NORMA vydaná dňa 1.2.2012

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (99.40 EUR)

Nemecky -

Tlačené (120.10 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (100.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-40:2012-02
Dátum vydania normy: 1.2.2012
Počet strán: 23
Približná hmotnosť: 69 g (0.15 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-40:2012-02 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.